“一种光束的微小位移测量方法及测量设备”专利寻求合作
项目编号: 201711010022
项目名称: “一种光束的微小位移测量方法及测量设备”专利寻求合作
项目所在地区: 上海
项目简介:
本发明涉及一种光束的微小位移测量方法及测量设备,该方法包括以下步骤:距离柱面镜中心线所在平面垂直距离x0处的激光投射到柱面镜上,通过柱面镜反射到观测屏上x1处;激光发射器移动微小位移dx后,距离柱面镜中心线所在平面垂直距离x0+dx处的激光投射到柱面镜上,通过柱面镜反射到观测屏上x2处:由公式即可计算出光微小位移dx,式中h为柱面镜中心线到观测屏的距离,r为柱面镜的半径,a、b为常数,a=r2-x02,b=2x02-r2;该设备包括激光发射器、三维移动平台、柱面镜及观测屏,激光发射器设在三维移动平台上,柱面镜与激光发射器位于同一高度,观测屏位于激光发射器及柱面镜的侧面。与现有技术相比,本发明结构简单,操作方便,设备造价低,检修维护方便,测量精度更高。
本发明交易方式多样,若为转让,转让价格为拾万元整;其它交易方式价格面议。
委托期限: 2017-10-25 至 2018-10-24
交易所咨询电话: 15618525289
交易所经办人: 黄刚
项目咨询

上海总部:400-883-9191

北京总部:010-51917888

分 享 至:
收藏
项目关注(点击关注该项目)

如您对此项目感兴趣,
填写信息后我们将有专人联系您!

©1999-2017 上海联合产权交易所版权所有    沪ICP备案编号:沪ICP备05002141号